LK-5800TC Type-C数据线综合测试仪
LK-5800TC Type-C数据线专用综合测试仪研发背景简介：
2015年CES大展上，Intel联合USB实施者论坛向公众展示了USB 3.1的威力，具体搭配的接口是USB Type-C，能够
正反随便插，大小也与micro-USB相差无几。理论上，USB 3.0 Type C的传输速度能够达到10Gbps。
Type-C是USB接口的一种连接介面，不分正反两面均可插入，大小约为8.3mm×2.5mm，和其他介面一样支持USB标
准的充电、数据传输、显示输出等功能。Type-C由USB Implementers Forum制定，在2014年获得苹果、谷歌、英特尔
微软等厂商支持后开始普及。
随着Type-C接口的普及，对Type-C数据线的需求日益增多，我们适时推出这款专用的测试仪器，用于产品量产检
测用以帮助广大厂商提高生产效率，控制好产品质量。
产品特点 PRODUCT FEATURE
采用全球领先技术及国内独创多项自主专利
可作线材单边、标准、多段和点测功能测试
导通电阻可单独分组设定，单边可点测导通电阻
点测可对单根线灵敏度值及颜色分别设定
电容最大可测 500μF，可测电容量及电容正负极
短路、断路不良分边精准无误
可对Type-C数据线不分正反快速准确测试
系统整体测试速度较传统同类产品提升一倍
提供先进的 USB 及 RS232 接口,并可与 PC 联机操作(定制)
特殊材料与制造工艺，绝缘受潮湿空气影响较小
系统提供统计报表及列印功能
自主软硬体设计，可视客户要求个性化定制其他功能
技术规格 SPECIFICATION
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测 量 时 间 Test time
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断/短路 Open/short
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快速(4ms/次/64点),慢速(8ms/次/64点)
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导通电阻 Cond
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快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒0.2s/32net(标准)参考
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绝缘电阻Insulation resistance
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一对其它3.6s/64net(0.01s) 二分快速0.4s/64net(0.01s) 0.01秒～60秒可选择设定
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交流高压AC High Voltage
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一对其它9.5s/64net(0.01s) 二分快速0.9s/64net(0.01s) 0.01秒～60秒可选择设定
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瞬间/高速短断路 INT Time
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0秒～99秒 设0秒表示无限时间
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测 试 参 数 Test parameters
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项 目Project
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符号Symbol
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测试范围Test range
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断/短路
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O/S
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1KΩ~100KΩ
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导通电阻测试
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COND
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1mΩ~50Ω
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电阻量测
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R
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0.1Ω~10MΩ
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电容量测
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C
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10pF~1000μF
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二极管量测
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D
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0.0V~7.0V
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绝缘阻抗
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I.S
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0.1MΩ~1000MΩ
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直流漏电流
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IL
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1μA~1000μA
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高压漏电流
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IL
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0.01mA~5mA
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瞬间导通阻抗
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INT.COND
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1mΩ~50Ω
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快速瞬断
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INT.OPEN
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0.4ms
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瞬间短断路
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INT.O/S
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2ms/64pin灵敏度
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规 格 说 明 Specifications
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测试扫描模式 Scan Mode
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自动/手动/连续/外部扫描可切换
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显示/声警装置Waming device
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Pass/Fail LED红绿指示灯/画面显示/声警320*240LCD液晶显示器，蓝/白底可切换
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存储装置
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内建512KB SRAM,可扩充1024KB
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尺寸 Size
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(W×D×H)425×190×350mm
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重量 Weight
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约14kg(不含配件)
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选 购 指 南 Selection Guide
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产品型号
Product Type
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量测点数
Test Points
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量测电压
Test Voltage
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LK-5810N
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64pin
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DC:5~1000V
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LK-5810N2
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128 pin
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DC:5~1000V
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LK-5810NA
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64 pin
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DC:5~1000V,AC:100~800V
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LK-5810NA2
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128 pin
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DC:5~1000V,AC:100~800V
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LK-5810FA
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64 pin
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DC:5~1500V,AC:100~1000V
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LK-5810FA2
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128 pin
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DC:5~1500V,AC:100~1000V
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